仪器分类
Scanning electron microscope_扫描电子显微镜
Scanning electron microscope_扫描电子显微镜
仪器编号
B103702230
SN序列号
MP1312002410241
生产厂家
JEOL
型号
JSM 6510
制造国家
Japan
分类号
03040702
放置地点
SA BuildingSA007
购置日期
2015-01-01
入网日期
2020-12-05

主要规格及技术指标

"Resolution 3.0nm (30KV) 8.0nm (3KV) 15nm (1KV)
Magnification 5-300; acceleration voltage 0.5KV-30KV; electron emission device: tungsten filament; zoom condenser, cone objective lens
分辨率 3.0nm(30KV) 8.0nm(3KV) 15nm (1KV)
放大倍数5-300;加速电压0.5KV-30KV;电子发射装置:钨灯丝; 变焦聚光镜,锥形物镜"

主要功能及特色

Simple operation; display two images at the same time;
Suitable for measurement of various structures, clean and high vacuum state;
Combining with oxfordESD is more conducive to sample analysis
操作简单;同时显示两幅图像;
适用于多种结构的的测量,洁净的高真空状态;
与oxfordESD结合更有利于样品的分析

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期